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  1. Sprache und Pathos
    zur Affektwirklichkeit als Grund des Wortes

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    Hinweise zum Inhalt
    Quelle: BDSL
    Beteiligt: Blattmann, Ekkehard (Hrsg.); Majolino, Claudio (Mitarb.); Zhok, Andrea (Mitarb.); Depraz, Natalie (Mitarb.); D'Oriano, Pietro (Mitarb.); Yamagata, Yorihiro (Mitarb.); Staudigl, Michael (Mitarb.); Otto, M.A.C. (Mitarb.)
    Sprache: Deutsch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    Format: Druck
    ISBN: 3495480196
    RVK Klassifikation: CC 4800
    Schriftenreihe: Alber-Reihe Philosophie
    Schlagworte: Sprache; Phänomenologie
    Umfang: 378 S., 22 cm
  2. Sprache und Pathos
    zur Affektwirklichkeit als Grund des Wortes
    Autor*in:
    Erschienen: 2001
    Verlag:  Alber, Freiburg [Breisgau] [u.a.]

    Universitätsbibliothek J. C. Senckenberg, Zentralbibliothek (ZB)
    13.089.96
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
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    Hinweise zum Inhalt
    Quelle: Fachkatalog Germanistik
    Beteiligt: Blattmann, Ekkehard (Hrsg.); Majolino, Claudio (Mitarb.); Zhok, Andrea (Mitarb.); Depraz, Natalie (Mitarb.); D'Oriano, Pietro (Mitarb.); Yamagata, Yorihiro (Mitarb.); Staudigl, Michael (Mitarb.); Otto, M.A.C. (Mitarb.)
    Sprache: Deutsch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    Format: Druck
    ISBN: 3495480196
    RVK Klassifikation: CC 4800
    Schriftenreihe: Alber-Reihe Philosophie
    Schlagworte: Sprache; Phänomenologie
    Umfang: 378 S., 22 cm