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  1. Pattern recognition and artificial intelligence
    Proceedings of the Joint Workshop on Pattern Recognition and Artificial Intelligence, held at Hyannis, Mass., June 1-3, 1976
    Autor*in:
    Erschienen: 1976
    Verlag:  Acad. Pr., New York

    Freie Universität Berlin, Universitätsbibliothek
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Export in Literaturverwaltung   RIS-Format
      BibTeX-Format
    Quelle: Verbundkataloge
    Beteiligt: Chen, Chi-hau (Sonstige)
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    ISBN: 0121709507
    RVK Klassifikation: CP 2000 ; ES 900 ; SS 1976 ; ST 300
    Schlagworte: Künstliche Intelligenz; Zeichenerkennung; Mustererkennung
    Umfang: IX, 621 S., zahlr. Ill. u. graph. Darst.
  2. Pattern recognition and artificial intelligence
    Proceedings of the Joint Workshop on Pattern Recognition and Artificial Intelligence, held at Hyannis, Mass., June 1-3, 1976
    Autor*in:
    Erschienen: 1976
    Verlag:  Acad. Pr., New York

    Universitätsbibliothek Augsburg
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Universitätsbibliothek Eichstätt-Ingolstadt
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Technische Universität München, Universitätsbibliothek, Teilbibliotheken Garching
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Universität der Bundeswehr München, Universitätsbibliothek
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Universitätsbibliothek Regensburg
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Export in Literaturverwaltung   RIS-Format
      BibTeX-Format
    Quelle: Verbundkataloge
    Beteiligt: Chen, Chi-hau (Sonstige)
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    ISBN: 0121709507
    RVK Klassifikation: CP 2000 ; ES 900 ; SS 1976 ; ST 300
    Schlagworte: Künstliche Intelligenz; Zeichenerkennung; Mustererkennung
    Umfang: IX, 621 S., zahlr. Ill. u. graph. Darst.
  3. Pattern recognition and artificial intelligence
    proceedings of the Joint Workshop on Pattern Recognition and Artificial Intelligence, held at Hyannis, Mass., June 1 - 3, 1976
    Autor*in:
    Erschienen: 1976
    Verlag:  Acad. Pr., New York [u.a.]

    Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
    (1)042824
    Ausleihe von Bänden möglich, keine Kopien
    Lehrstuhl für Statistik und Institut für Statistik u. Wirtschaftsmathematik, Bibliothek
    102:B 5006
    keine Fernleihe
    Universitätsbibliothek Bielefeld
    QA052%Y76 P3R3A
    keine Ausleihe von Bänden, nur Papierkopien werden versandt
    Ruhr-Universität Bochum, Verbundbibliothek IB Fachbibliothek für Geographie, Geologie, Mathematik, Psychologie
    Ah 266
    keine Fernleihe
    Universität Bonn, Institut für Psychologie, Bibliothek
    5.5 PATT
    keine Fernleihe
    Universitätsbibliothek Dortmund
    Sn 26544
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Universitätsbibliothek Duisburg-Essen, Campus Essen
    TVV1402
    Universitätsbibliothek der Fernuniversität
    TUQ/PRAI
    Universitätsbibliothek Kaiserslautern
    INF 844/048
    Institut für Linguistik, Abt. Allgemeine Sprachwissenschaft, Abt. Historisch-Vergleichende Sprachwissenschaft, Gemeinsame Bibliothek
    409/KB/76.15
    keine Fernleihe
    Gemeinsame Fachbibliothek Biologie
    BIO/ST300Chen
    keine Fernleihe
    Universitäts- und Stadtbibliothek Köln, Hauptabteilung
    5H7786
    Ausleihe von Bänden möglich, keine Kopien
    Bibliothek des Fachbereichs Mathematik und Informatik der Universität
    P 1976
    keine Fernleihe
    Universitätsbibliothek Siegen
    51TVV1224
    Universitätsbibliothek Wuppertal
    ZZV465911
    Export in Literaturverwaltung   RIS-Format
      BibTeX-Format
    Quelle: Verbundkataloge
    Beteiligt: Chen, Chi-hau (Hrsg.)
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    ISBN: 0121709507
    RVK Klassifikation: ES 900 ; SS 1976 ; CP 2000
    Schriftenreihe: Academic Press rapid manuscript reproduction
    Schlagworte: Künstliche Intelligenz; Mustererkennung; Zeichenerkennung
    Umfang: IX, 621 S., Ill., graph. Darst.