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  1. J2EE design patterns
    [patterns in the real world]
    Autor*in: Crawford, William
    Erschienen: 2003
    Verlag:  O'Reilly, Beijing

    Export in Literaturverwaltung   RIS-Format
      BibTeX-Format
    Quelle: Verbundkataloge
    Beteiligt: Kaplan, Jonathan
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    Format: Druck
    ISBN: 0596004273
    Weitere Identifier:
    9780596004279
    DDC Klassifikation: Datenverarbeitung; Informatik (004)
    Auflage/Ausgabe: 1. ed.
    Schlagworte: Java 2 Enterprise Edition; Entwurfsmuster
    Weitere Schlagworte: (VLB-PF)BC: Paperback
    Umfang: XVI, 350 S., graph. Darst.
  2. J2EE Design Patterns
    [patterns in the real world]
    Autor*in: Crawford, William
    Erschienen: 2003
    Verlag:  O'Reilly & Associates, Inc., Beijing [u.a.]

    Standort:
    Technische Universität Chemnitz, Universitätsbibliothek
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Link zum Verbundkatalog:
    Südwestdeutscher Bibliotheksverbund (SWB)

    Standort:
    Karlsruher Institut für Technologie, KIT-Bibliothek
    Signatur:
    2003 A 9639
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Standort:
    KIT-Bibliothek, Bibliothek der Fakultät für Informatik
    Signatur:
    E.Cra(45208)
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Link zum Verbundkatalog:
    Südwestdeutscher Bibliotheksverbund (SWB)

    Standort:
    Hochschule Mannheim, Hochschulbibliothek
    Signatur:
    E IV 14851
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Link zum Verbundkatalog:
    Südwestdeutscher Bibliotheksverbund (SWB)

    Standort:
    Hochschulbibliothek Reutlingen (Lernzentrum)
    Signatur:
    I 3-390-431
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Link zum Verbundkatalog:
    Südwestdeutscher Bibliotheksverbund (SWB)
    Export in Literaturverwaltung   RIS-Format
      BibTeX-Format
    Hinweise zum Inhalt
    Quelle: Verbundkataloge
    Beteiligt: Kaplan, Jonathan
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    Format: Druck
    ISBN: 0596004273
    Weitere Identifier:
    9780596004279
    RVK Klassifikation: ST 250 ; ST 231
    Auflage/Ausgabe: 1. ed.
    Schlagworte: Java 2 Enterprise Edition; Entwurfsmuster;
    Umfang: XVI, 350 S., graph. Darst.
  3. J2EE design patterns
    [patterns in the real world]
    Autor*in: Crawford, William
    Erschienen: 2003
    Verlag:  O'Reilly, Beijing [u.a.]

    Standort:
    Staats- und Universitätsbibliothek Hamburg Carl von Ossietzky
    Signatur:
    P CRA 33445
    Fernleihe:
    keine Fernleihe
    Link zum Verbundkatalog:
    Gemeinsamer Bibliotheksverbund (GBV)

    Standort:
    Technische Universität Hamburg, Universitätsbibliothek
    Signatur:
    2812-8715
    Link zum Verbundkatalog:
    Gemeinsamer Bibliotheksverbund (GBV)

    Standort:
    Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek
    Signatur:
    T 03 B 6207
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Link zum Verbundkatalog:
    Gemeinsamer Bibliotheksverbund (GBV)

    Standort:
    Hochschule Schmalkalden, Cellarius Bibliothek
    Signatur:
    EDV 599 8009/03
    Fernleihe:
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Link zum Verbundkatalog:
    Gemeinsamer Bibliotheksverbund (GBV)
    Export in Literaturverwaltung   RIS-Format
      BibTeX-Format
    Hinweise zum Inhalt
    Quelle: Verbundkataloge
    Beteiligt: Kaplan, Jonathan
    Sprache: Englisch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    Format: Druck
    ISBN: 0596004273
    RVK Klassifikation: ST 250 J35 ; ST 231 ; ST 250
    Auflage/Ausgabe: 1. ed
    Schlagworte: Java (Computer program language); Computer software; Software patterns
    Umfang: XVI, 352 S, Ill., graph. Darst