Filtern nach
Letzte Suchanfragen

Ergebnisse für *

Es wurden 1 Ergebnisse gefunden.

Zeige Ergebnisse 1 bis 1 von 1.

Sortieren

  1. Klassifikation von Mustern
    Erschienen: 2003
    Verlag:  FAU, Department of Computer Science, Lehrstuhl für Mustererkennung, Erlangen

    Universitätsbibliothek Erlangen-Nürnberg, Hauptbibliothek
    uneingeschränkte Fernleihe, Kopie und Ausleihe
    Export in Literaturverwaltung   RIS-Format
      BibTeX-Format
    Hinweise zum Inhalt
    Volltext (URL des Erstveröffentlichers)
    Quelle: Verbundkataloge
    Sprache: Deutsch
    Medientyp: Buch (Monographie)
    Format: Online
    RVK Klassifikation: ZN 6050 ; ES 945 ; ST 330 ; ZQ 6270
    Auflage/Ausgabe: 2. überarbeitete und erweiterte Auflage im Internet
    Schlagworte: Mustererkennung; Klassifikation; Zeichen (Kybernetik); Erkennung; Pattern perception; Pattern recognition systems; Mustererkennung; Klassifikation
    Umfang: 1 Online-Ressource (489 S.), Diagramme